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余稳, 蔡新华, 黄文华, 刘国治. 半导体器件烧毁的物理机理[J]. 物理, 1999, 28(6).
引用本文: 余稳, 蔡新华, 黄文华, 刘国治. 半导体器件烧毁的物理机理[J]. 物理, 1999, 28(6).
shu

半导体器件烧毁的物理机理

    摘要
  • 摘要: 叙述了半导体器件烧毁的物理机理、目前的研究进展及作者正在开展的工作

     

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