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严玉顺, 何向明, 张泉荣. 防伪技术的新突破——核径迹防伪技术[J]. 物理, 1999, 28(5).
引用本文: 严玉顺, 何向明, 张泉荣. 防伪技术的新突破——核径迹防伪技术[J]. 物理, 1999, 28(5).
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防伪技术的新突破——核径迹防伪技术

    摘要
  • 摘要: 用核粒子照射塑料薄膜形成径迹，再经化学试剂蚀刻和成像技术，得到由微米级微孔组成的图案．这种图案具有物质透过特性．用这种方法生产的核径迹防伪标志，具备核尖端技术不易扩散，制作设备不易得到，产品用其他方法难以伪造，防伪识别简单、快速、可靠等特点．此种标志已经通过放射性安全检测，可以用于各种商品（包括食品）的包装

     

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