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白春礼, 林璋. 扫描探针显微学在材料表面纳米级结构研究中的新进展[J]. 物理, 1999, 28(1).
引用本文: 白春礼, 林璋. 扫描探针显微学在材料表面纳米级结构研究中的新进展[J]. 物理, 1999, 28(1).

扫描探针显微学在材料表面纳米级结构研究中的新进展

  • 摘要: 应用扫描探针显微技术(SPM)[包括扫描隧道显微镜(STM)、原子力显微镜(AFM)、磁力显微镜(MFM)等],比较系统地研究了一些无机、有机和生物材料的表面精细结构;在极高分辨率的水平上,解释了如C60Langmuir-Blodget膜、有机磁性薄膜的结构与样品制备、形成条件的关系;研究并揭示了碱金属与半导体表面吸附相互作用,红细胞表面精细结构等;拓宽了扫描探针显微技术的应用范围,在实验方法和研究成果上具有明显的创新性.

     

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