扫描探针显微学在材料表面纳米级结构研究中的新进展

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扫描探针显微学在材料表面纳米级结构研究中的新进展

白春礼, 林璋

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白春礼, 林璋. 扫描探针显微学在材料表面纳米级结构研究中的新进展[J]. 物理, 1999, 28(1).

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白春礼, 林璋. 扫描探针显微学在材料表面纳米级结构研究中的新进展[J]. 物理, 1999, 28(1).

扫描探针显微学在材料表面纳米级结构研究中的新进展

白春礼,
林璋

中国科学院化学研究所,北京100080

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出版历程
- 发布日期: 1999-01-19

中国科学院化学研究所,北京100080

摘要: 应用扫描探针显微技术（ＳＰＭ）［包括扫描隧道显微镜（ＳＴＭ）、原子力显微镜（ＡＦＭ）、磁力显微镜（ＭＦＭ）等］，比较系统地研究了一些无机、有机和生物材料的表面精细结构；在极高分辨率的水平上，解释了如Ｃ６０Ｌａｎｇｍｕｉｒ－Ｂｌｏｄｇｅｔ膜、有机磁性薄膜的结构与样品制备、形成条件的关系；研究并揭示了碱金属与半导体表面吸附相互作用，红细胞表面精细结构等；拓宽了扫描探针显微技术的应用范围，在实验方法和研究成果上具有明显的创新性．
- 扫描探针显微学 /
- 材料表面纳米级结构

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