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范垂祯, 杨得全, 陈宇. 工业中的现代表面分析技术(Ⅰ) 主要仪器和方法简介[J]. 物理, 1992, 21(8).
引用本文: 范垂祯, 杨得全, 陈宇. 工业中的现代表面分析技术(Ⅰ) 主要仪器和方法简介[J]. 物理, 1992, 21(8).
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工业中的现代表面分析技术(Ⅰ) 主要仪器和方法简介

    摘要
  • 摘要: 本文扼要地介绍了几种工业中常用的现代表面分析仪器和方法，如俄歇电子谱（ＡＥＳ）、Ｘ－射线光电子谱（ＸＰＳ）［或称化学分析用电子谱（ＥＳＣＡ）］、二次离子质谱（ＳＩＭＳ）等的基本工作原理、仪器结构、使用方法及其特点，简单讨论了与表面分析有关的超高真空技术、样品表面的清洁、离子束溅射及无损检测等问题．

     

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