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刘文, 刘文汉, 吴自勤. 一种可用于测量薄膜材料的实验室EXAFS方法[J]. 物理, 1989, 18(11).
引用本文: 刘文, 刘文汉, 吴自勤. 一种可用于测量薄膜材料的实验室EXAFS方法[J]. 物理, 1989, 18(11).
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一种可用于测量薄膜材料的实验室EXAFS方法

    摘要
  • 摘要: 本文介绍了利用从薄膜衬底反射的Ｘ射线，在常规实验室条件下实现了对薄膜材料的ＥＸＡＦＳ测量．我们用该方法在Ｄ／ｍａｘ－ｒＢ１２ｋＷ转靶Ｘ射线衍射仪上得到的纯Ｃｕ薄膜的ＥＸＡＦＳ测量结果和常规透射法的测量结果一致．这表明该方法是可靠的．

     

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