高级检索

氮化钛(TiN)薄膜的应力测试

王英华, 尤引娟

王英华, 尤引娟. 氮化钛(TiN)薄膜的应力测试[J]. 物理, 1986, 15(3).
引用本文: 王英华, 尤引娟. 氮化钛(TiN)薄膜的应力测试[J]. 物理, 1986, 15(3).

氮化钛(TiN)薄膜的应力测试

  • 摘要: 镀层的应力状态直接影响着镀层的附着情况与稳定性.当它的应力很大时,放置一段时间,镀层可以自行崩裂、脱落.因此,有必要关心镀层的应力状态.然而,当镀层较薄,结晶又不甚完好时,往往得不到镀层的X光衍射线,或得不到它的大角度衍射线.这就是利用X光方法测定薄膜应力时的困难所在.对于厚度约0.2~0.3μm的TiN离子镀层,在一般衍射仪上测不到X光衍射线;就是厚达1μm多的镀层,也只有2θ角为36°附?...
计量
  • 文章访问数:  113
  • HTML全文浏览量:  6
  • PDF下载量:  8632
  • 被引次数: 0
出版历程
  • 发布日期:  1986-03-19

目录

    /

    返回文章
    返回