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扫描隧道显微镜

戴道宣

戴道宣. 扫描隧道显微镜[J]. 物理, 1985, 14(4).
引用本文: 戴道宣. 扫描隧道显微镜[J]. 物理, 1985, 14(4).

扫描隧道显微镜

  • 摘要: 近几年来,利用在真空中金属表面隧道效应的原理来设计的扫描隧道显微镜(ScanningTunnelingMicroscopy,缩写为STM),它真实、直观,且具有0.1nm量级的超高分辨率.由于它的分辨率低于元素晶体的晶格常数(一般<1nm),因此它是研究固体表面原子结构的理想实验手段之一.1983年用它首次在实时空间内观察到Si(111)表面7×7的大元胞[1],在科学界引起强烈的反响.ST?...
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  • 发布日期:  1985-04-19

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