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徐稼迟. GaAs的中子嬗变掺杂[J]. 物理, 1984, 13(11).
引用本文: 徐稼迟. GaAs的中子嬗变掺杂[J]. 物理, 1984, 13(11).

GaAs的中子嬗变掺杂

  • 摘要: 硅的中子嬗变掺杂(NTD)已经得到了广泛应用,在制备大功率整流器、可控硅、硅靶摄像管、核探测器和集成电路等方面巳被公认是一个好的方法[1-3].NTD硅的优点是掺杂十分均匀,浓度偏差可在±5%之内,而且它的掺杂精度很高,能够准确地达到所要求的浓度.1971年苏联的Sh.M.Mirishvili等人[4]报道了GaAs的中子嬗变掺杂,在这以后,一些作者进一步研究了热中子辐照GaAs的原理、光致?...

     

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