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新实验技术在材料研究中的应用讲座第九讲 电子能量损失谱原理及应用

  • 摘要: 一、物理本质把与样品交互作用后的透射电子按能量大小进行计数,这就是电子能量损失谱(EELS).EELS是一次过程,其中的电离损失峰是内壳层电子直接被激发或电离的过程.X射线能谱是电离后的弛豫过程,是二次过程,取决于X射线的产额.故从理论上说,EELS的测量效率应较之X射线能谱为高.但因为在实际测量中,EELS受谱仪接受角大小的限制,只能接受一部分非弹性散射的电子,所以实际测量效率相近.二、谱?...

     

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