高级检索

X射线漫散射研究中的Ewald作图法

李永基

李永基. X射线漫散射研究中的Ewald作图法[J]. 物理, 1981, 10(6).
引用本文: 李永基. X射线漫散射研究中的Ewald作图法[J]. 物理, 1981, 10(6).

X射线漫散射研究中的Ewald作图法

  • 摘要: X射线漫散射已经成为研究不完整晶体的有力工具[1,2].在晶体结构分析中也起着重要作用,我们曾把Ewald作图法用于X射线漫散射研究[3].在图解法中,各层倒易格点与反射球的关系清晰地表现在图上,不但使实验调整工作简便,而且对分析实验结果也有参考价值.一、原理以简单单斜格子为例进行讨论.考虑倒易基矢a*,b*所定义的倒易层面.同层倒易格点的指数l相同,与反射球相交于同一纬度的圆环上,简称此圆?...
计量
  • 文章访问数:  147
  • HTML全文浏览量:  4
  • PDF下载量:  8783
  • 被引次数: 0
出版历程
  • 发布日期:  1981-06-19

目录

    /

    返回文章
    返回