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高■, 郁秀康. 微带线的欧姆损耗[J]. 物理, 1974, 3(2).
引用本文: 高■, 郁秀康. 微带线的欧姆损耗[J]. 物理, 1974, 3(2).

微带线的欧姆损耗

  • 摘要: 随着电子工业的迅速发展,要求微波器件具有体积小、重量轻、稳定性好、频带宽等特点.微带器件基本上能满足以上要求,但它的缺点之一是插入损耗较大.为了降低铁氧体微带器件的插入损耗,需要减小基片的介电损耗、磁损耗、辐射损耗、导体的欧姆损耗,以及在器件设计上必须考虑到合理的阻抗匹配等.我们这项工作就是以YIG(Y3.0Mn0.01Fe4.8O12)材料为基片,用薄膜工艺制备微带线(见图1).1.通过测?...

     

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