硫系薄膜阈值开关机理的探讨

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硫系薄膜阈值开关机理的探讨

孔光临, 李永常, 姚振钰

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孔光临, 李永常, 姚振钰. 硫系薄膜阈值开关机理的探讨[J]. 物理, 1973, 2(2).

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孔光临, 李永常, 姚振钰. 硫系薄膜阈值开关机理的探讨[J]. 物理, 1973, 2(2).

硫系薄膜阈值开关机理的探讨

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出版历程
- 发布日期: 1973-02-19

摘要: 本文通过不同温度下阈值电压及恢复过程等基本特性的测量说明：开关行为在较高温度下主要是热的机构，而在低温下似乎是无极性电过程起主要作用；恢复过程基本上是一个热的恢复过程，即使在低温时，仍需考虑不可避免的热作用的存在．

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