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光热辐射测量技术应用于材料物性和缺陷的无损检测

李佩赞, 王钦华

李佩赞, 王钦华. 光热辐射测量技术应用于材料物性和缺陷的无损检测[J]. 物理, 1996, 25(7).
引用本文: 李佩赞, 王钦华. 光热辐射测量技术应用于材料物性和缺陷的无损检测[J]. 物理, 1996, 25(7).

光热辐射测量技术应用于材料物性和缺陷的无损检测

  • 摘要: 描述了光热辐射测量技术的特点、原理和测量装置,并扼要介绍了材料热扩散率、材料表面伤痕和内部缺陷的无损检测.
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  • 发布日期:  1996-07-19

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