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袁洛. 背散射和沟道分析在超导薄膜中的应用[J]. 物理, 1992, 21(10).
引用本文: 袁洛. 背散射和沟道分析在超导薄膜中的应用[J]. 物理, 1992, 21(10).
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背散射和沟道分析在超导薄膜中的应用

    摘要
  • 摘要: 本文简要介绍了卢瑟福背散射和沟道分析技术的基本原理，说明了它们在高临界温度超导薄膜的成分和结构分析中的应用．

     

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