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黄依森, 赵庆兰. X射线形貌样品厚度的无损测量方法[J]. 物理, 1990, 19(5).
引用本文: 黄依森, 赵庆兰. X射线形貌样品厚度的无损测量方法[J]. 物理, 1990, 19(5).

X射线形貌样品厚度的无损测量方法

  • 摘要: 本文介绍了几种X射线形貌样品厚度的无损测量方法的原理、技术和应用,可供X射线衍射形貌工作者根据样品的特殊情况选择使用,或进行多途径的综合测量和核对.

     

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