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吴超明, VirgilElings. 扫描隧道显微镜在工业上的一些应用[J]. 物理, 1990, 19(2).
引用本文: 吴超明, VirgilElings. 扫描隧道显微镜在工业上的一些应用[J]. 物理, 1990, 19(2).

扫描隧道显微镜在工业上的一些应用

  • 摘要: 用扫描隧道显微镜[1-3](STM)探测原子量级的表面结构,是大家熟知的.除了观察材料表面的原子和分子外,在工业上人们常用STM来研究样晶的表面特征,扫描范围可以从0.01μm到200.00μm..这样的分辨率,扫描电镜(SEM)也能达到.不过,SEM测不出Z方向的微小距离,而STM却可保持在Z方向有较高的分辨率.因此,在工业上用STM观察在Z方向有微小高差特征的表面结构,例如光滑轴承表面的?...

     

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