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何秋英, 刘培铭, 崔文栋. 快脉冲实验装置产生的干扰及抗干扰手段[J]. 物理, 1983, 12(2).
引用本文: 何秋英, 刘培铭, 崔文栋. 快脉冲实验装置产生的干扰及抗干扰手段[J]. 物理, 1983, 12(2).

快脉冲实验装置产生的干扰及抗干扰手段

  • 摘要: 在电容储能、高电压、大电流放电等环境中,用电子学系统和电子计算机(包括微处理机)对脉冲实验装置进行自动控制,对实验装置的物理实验数据进行采集和处理,都会遇到极强的干扰.主要的干扰来源于电容器组本身放电和启动电容器组时的触发放电.主放电产生的干扰主要有地电位升高和电磁耦合干扰两种.触发放电产生的干扰主要有静电感应干扰和电磁辐射干扰两种.下面介绍两种特殊的抗干扰方法.1.隔离在快脉冲实验这种强干?...

     

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