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陈筱英, 谢毓章. 丝状液晶预倾角的测量[J]. 物理, 1983, 12(1).
引用本文: 陈筱英, 谢毓章. 丝状液晶预倾角的测量[J]. 物理, 1983, 12(1).

丝状液晶预倾角的测量

  • 摘要: 各种液晶器件都以一定的分子定向排列为基础,要求有均匀一致的小角度沿面排列、小角度垂面排列或沿面排列与垂面排列结合.标志定向排列的参数是预倾角,即液晶指向矢与基片表面之间的夹角.预倾角的大小直接影响液晶器件的电光特性,如对比度、响应速度、视角特性、均匀性等等.另外,液晶分子在基片上定向排列的机理至今尚未完全清楚.液晶指向矢在基片表面的倾角不仅与表面状态有关,也与材料和温度有关.因此不论?...

     

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