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杜永昌, 晏懋洵. 深能级瞬态谱仪[J]. 物理, 1981, 10(2).
引用本文: 杜永昌, 晏懋洵. 深能级瞬态谱仪[J]. 物理, 1981, 10(2).

深能级瞬态谱仪

  • 摘要: 一、引言众所周知,如果在半导体中存在着某些杂质或缺陷,相应地在半导体的禁带中就出现一些能级.离开导带底较远或者离开价带顶较远的能级,都称为深能级.深能级的存在对于半导体的电学、光学和热学性质都有深刻的影响.对二极管和晶体管的开关特性与击穿特性,对发光二极管及半导体激光器的量子效率和使用寿命,对发光二极管的发光颜色以及电荷耦合器件的电荷转移效率等方面,深能级杂质和缺陷都有重要的甚至是决定性的影?...

     

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