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郭常霖, 马利泰. X射线衍射线对法精密测定晶胞参数[J]. 物理, 1981, 10(11).
引用本文: 郭常霖, 马利泰. X射线衍射线对法精密测定晶胞参数[J]. 物理, 1981, 10(11).

X射线衍射线对法精密测定晶胞参数

  • 摘要: 用X射线多晶衍射的方法精密测定晶胞参数时,通常要求用精密的实验方法绝对测得每条衍射线的衍射角θ值[1].这一般要有精密的衍射仪或粉末照相设备,并要对它们作严格的调节和校正.因为绝对测定θ角首先要有精确的角度零点位置作标准,并需根据衍射线形或强度分布严格地判断真正的峰值位置.若能通过相对地测定两线角度差来求晶胞参数,则无需参考零点,且不必判断绝对峰值位置(只需各线部取同一线形位置),故实验技术?...

     

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