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周邦新. 制备透射电子显微镜金属薄膜样品的自动控制装置[J]. 物理, 1980, 9(5).
引用本文: 周邦新. 制备透射电子显微镜金属薄膜样品的自动控制装置[J]. 物理, 1980, 9(5).

制备透射电子显微镜金属薄膜样品的自动控制装置

  • 摘要: 一、前言Heidenreich1]于1949年首先用3×0.12毫米的铝片做成薄膜,并用透射电子显微镜进行了观察.由于当时对电子衍衬成象认识不清,用透射电镜研究金属薄膜的工作停顿了一段时期,直到五十年代后期才蓬勃开展.当时大多采用窗法制备金属薄膜,为了解决样品在电解抛光减薄时面积迅速缩小的问题,在样品四周涂一层清漆进行绝缘,或采用一对尖阴极,使样品表面的电流密度分布有利于中心的减薄.这种方法....

     

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