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洪静芬, 孙政民, 杨永顺, 闵乃本. 电子称重直径自控生长的LiNbO_3单晶体中功率条纹的研究[J]. 物理, 1980, 9(1).
引用本文: 洪静芬, 孙政民, 杨永顺, 闵乃本. 电子称重直径自控生长的LiNbO_3单晶体中功率条纹的研究[J]. 物理, 1980, 9(1).
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电子称重直径自控生长的LiNbO_3单晶体中功率条纹的研究

    摘要
  • 摘要: 近年来，直拉法生长单晶体普遍地采用了电子称重直径自控技术［１，２］．然而，在直径控制良好的晶体中仍然存在一种因功率起伏而产生的生长条纹（即功率条纹）［３］，这种条纹影响了晶体质量．在我们实验室中，已用电子称重法生长了ＬｉＮｂＯ３单晶体，并利用引入时标（ｔｉｍｅｍａｒｋｅｒ）的方法［４］研究了功率条纹的成因，下面简要地报道所取得的主要结果．电子称重直径自控系统的装置如图１所示．其特点是，置于电?...

     

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