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王梦瑞. Zhp-2型火花源固体双聚焦质谱仪[J]. 物理, 1977, 6(6).
引用本文: 王梦瑞. Zhp-2型火花源固体双聚焦质谱仪[J]. 物理, 1977, 6(6).

Zhp-2型火花源固体双聚焦质谱仪

  • 摘要: 一、引言Zhp-2型火花源固体双聚焦质谱仪,是一种利用离子光学方法分析固体样品中微量杂质元素的大型仪器.它在物理学研究和应用工作中起着越来越重要的作用.随着近代科学技术的发展,新材料的应用越来越广泛.对超纯物质的纯度提出越来越高的要求.如半导体材料中某些微量杂质的存在,足以影响材料及器件的重要性能.因此,在生产工艺上必须加以控制,要求相对灵敏度达到10-8-10-10,甚至更高.迄今为止,具?...

     

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