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孔光临, 李永常, 姚振钰. 硫系薄膜阈值开关机理的探讨[J]. 物理, 1973, 2(2).
引用本文: 孔光临, 李永常, 姚振钰. 硫系薄膜阈值开关机理的探讨[J]. 物理, 1973, 2(2).

硫系薄膜阈值开关机理的探讨

  • 摘要: 本文通过不同温度下阈值电压及恢复过程等基本特性的测量说明:开关行为在较高温度下主要是热的机构,而在低温下似乎是无极性电过程起主要作用;恢复过程基本上是一个热的恢复过程,即使在低温时,仍需考虑不可避免的热作用的存在.

     

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